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场发射显微镜
场发射显微镜Field Emission Microscope是为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定器件芯片Ohmic短路位置。场致发射显微镜确定断路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。编号：FPCRE-Field-Emission价格：￥0.00数量：在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-2279 9028 您也可网站留言或在线客服留言垂询，孚光精仪-**的进口激光精密科学仪器服务商欢迎您！ -
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场发射显微镜Field Emission Microscope是为半导体器件漏电和门控问题设计的荧光显微热像仪,可确定器件芯片Ohmic短路位置。
场发射显微镜确定短路位置,快速而清洁,不需要在晶圆上涂层镀膜,可以在1000nm以下和1800nm波段显示漏电和门控问题。
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图示：场致发射显微镜Field Emission Microscope及其结果
