光电子激光领域的薄膜测量

光电子领域测量吸收率，反射率，透过率，器件和机构的发光feichang重要。
我们使用薄膜厚度测量系统(薄膜测厚仪）为上述测量任务提供精确解决方案，我们的测量方案中还提供薄膜厚度和折射率测量的功能。
另外，近年来比较热门的研究领域，如发光器件，激光，LED,OLED，测量发光情况（包括光谱，光强）feichang重要。我们针对LED 和OLED的发光测量提供整套方案。