光波元器件分析仪

光波元器件分析仪是为无源光学元件模块设计的光波分析仪器,旨在测量并分析在反射或透射中工作的插入损耗（IL）和返回损耗（RL）分布以及长度。
光波元器件分析仪Luna 6415利用光学频域反射测量OFDR技术测量作为距离函数的后向散射或透射光。极高的灵敏度和采样分辨率（20μm）使光波元器件分析仪Luna 6415成为光子集成电路（PICs）和硅光子学的理想测试工具。
光波元器件分析仪Luna 6415通过使用单一仪器测量反射或传输中的RL、IL和长度，降低了测试成本和复杂性，同时提高了吞吐量。

光波元器件分析仪应用
•空间RL测试
•自动IL测试和分析
•具有亚皮秒分辨率的倾斜测量
•可编程逻辑控制器、波导器件、awg、ROADMs等
•耦合器、开关、分束器
光波元器件分析仪特点
•回波损耗（RL）和插入损耗（IL）分析
•沿光路长度的跟踪分布RL
•RL和IL的光谱分析
•检测和精确定位反射事件并测量路径长度
•速度，*化生产测试的分辨率和精度-20μm采样分辨率-20 m测量范围-6 Hz扫描/采集速率
光波元器件分析仪规格参数
采样分辨率：20um
时间飞行延迟精度：+/-0.0034%
***大器件长度（反射）：20m
***大器件长度（透射）：40m
波长范围：40nm
波长江都：1.5pm
中心波长：1546.69nm
测量速率：6Hz
***大光功率：5mW
返回损耗特性（反射模式）
返回损耗（RL）动态范围：70dB
总范围：0-130dB
灵敏度：-135dB
分辨率：+/-0.1dB
精度：+/-0.5dB
插入损耗特性（反射/透射模式）
插入损耗（IL）动态范围（透射模式）：70dB
插入损耗（IL）动态范围（反射模式）：15dB
分辨率：+/-0.1dB
精度：+/-0.2dB
光学连接头：FC/APC
功耗：50W
重量：6Kg

反射模式测量,返回损失与波长的关系图,底部给出识别反射元件光栅的光谱成分