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显微分光光度计
这款显微分光光度计MicroSpectrophotomete是多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光。这款显微分光光度计通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。编号：FRANG-MSP300价格：￥0.00数量：在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-2279 9028 您也可网站留言或在线客服留言垂询，孚光精仪-**的进口激光精密科学仪器服务商欢迎您！ -
- 商品详情
这款显微分光光度计MicroSpectrophotomete是多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光。这款显微分光光度计通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
显微分光光度计应用
测量薄膜吸收率,透过率
测量化学薄膜和生物薄膜测量
光电子薄膜结构测量
半导体制造
聚合物测量
在线测量
光学镀膜测量
整套显微分光光度计的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。*高倍数的物镜的测量点*小。
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显微分光光度计软件
这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。
对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。
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显微分光光度计软件的显示
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显微分光光度计和自动晶圆传输加载系统的连用-用于晶圆薄膜测量
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显微分光光度计-具有成像和光谱对应测量功能
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显微分光光度计的样品成像功能
显微分光光度计标准参数型号
波长范围
测量参数
测量薄膜厚度范围
测量点大小
可选项
MSP100
250 to 1000 nm
D - Thickness;
R - Reflection
T - Transmission
N - Refractive Index;
K - Extinction Coefficients
Geometry of features
Up to 25um
Configuration 1:
8µm /40µm /100µm
Or
Configuration 2:
5µm /25µm /50µm
Transmission
Motorized Stage
Motorized Z Focus
Heating/Cooling Stage
Special Sample Holders
Fluorescence Attachment
Other spot sizes
Various FiltersPolarizing optics
Thickness standards
MSP300
400 to 1000 nm
20nm to 50um
MSP400
1000 to 1700 nm
50nm to 50um
MSP450
400 to 1700 nm
20nm to 50um
MSP500
250 to 1700 nm
Up to 50um
