这款无人机红外热成像系统采用欧洲顶级机载红外相机,机载热成像相机和无人机载红外热像仪，集成无人机和自动控制系统，具有实时传输空中热图像到地面控制器的*别功能，feichang适合热成像空中监视,热成像空中巡查,红外成像空中搜捕等应用。

高灵敏度SWIR相机采用WiDY短波红外相机铟镓砷InGaAs探测器,具有快门选通成像功能,高灵敏度和高动态范围HDR,VGA图像分辨率,zhuanye红外成像软件具有非均匀性矫正,坏像素取代,图像增强,图像变焦等

中波红外视频相机TIS-VGA-P15是高清视频中波红外相机,采用锑化铟InSb探测器,提供3.4-4.9微米光谱范围,分辨率高达640x512像素,适合高清中波红外成像.

VGA SWIR相机320U-S采用NIT红外相机WiDY技术,具有防冲击外壳,提供USB2.0或Camlink接口,zhuanye红外成像软件具有非均匀性矫正,坏像素取代,图像增强,图像变焦等功能。

这款短波红外相机,SWIR相机是一款科学级的超高性能的2D阵列InGaAs相机，波长范围是900-1700nm. 该短波红外相机使用InGaAs探测器作为短波红外图像传感器并配备读取电路，提供320x256像素的分辨率.

铟砷化镓相机是Photonic Science科学级InGaAs相机和SWIR相机,提供640x512像素分辨率分辨率和900-1700nm光谱范围,广泛用于激光光束分析,半导体检测,高光谱成像,在线检测,弱光成像,太阳能电池面板检测.

InGaAs相机是Photonic Science科学级SWIR相机和铟砷化镓相机,提供320x256像素分辨率分辨率和900-1700nm光谱范围,广泛用于激光光束分析,半导体检测,高光谱成像,在线检测,弱光成像,太阳能电池面板检测.

长波红外相机ATOM640是结构紧凑的LWIR相机,具有640x480像素分辨率,光谱范围8-14微米,灵敏度高,红外成像*,功耗低,尺寸小,feichang适合集成到手持式红外成像系统,机载红外成像系统和车载红外成像系统中使用.

LWIR长波红外相机ATOM1024是一款非制冷长波红外相机,提供8-14微米光谱范围,具有XGA分辨率1024 x768像素分辨率,热灵敏度高,机构紧凑,功耗低,适合作为OEM器件集成到热成像系统中使用。

这款非制冷型近红外中波红外相机是一款具有中波红外高速成像功能的的高速中波红外相机,具有1-5微米感光范围,帧频高达1000Hz,并具有InGaAs相机无法匹敌的精度，使得高速热成像测量无比简单而精确。该中波红外相机可以根据不同的应用而配备不同的附件。

这款红外高速相机是中红外波段(1.2-4.8微米)的高速红外相机和高速线扫描相机,feichang适合快速运动物体的快速瞬时热成像测量,它可以在1.2-4.8微米的波段范围内实现双带波长线扫描.它能够测量物体表面温度而不需要用户提供发射系数等数值. 而双波长测量的功能也使得这款高速红外相机应用到表面探测,水分测量等领域.

电弧超快成像系统采用电弧成像超快相机和电弧成像高速相机对于电路中开关器件的电弧放电进行超快成像,捕捉电弧运动和电弧行为,feichang适合电弧放电成像研究

纳秒时间选通成像系统采用了纳秒时间选通成像相机,Time-Gated CCD Imager, 具有两个*立的0-255ns可调的延迟控制通道，纳秒时间选通成像系统没有采用门控增强器而是直接把时间选通信号加到CCD相机上,这种技术大大提高时间分辨率,降低成像噪音,提高光谱灵敏度,提供了荧光磷光探针成像效果.纳秒时间选通成像系统具有纳秒延迟输出打开功能，feichang适合纳秒寿命成像，泵浦探针成像实验和散射成像或时间飞行成像等应用。

荧光磷光探针时间选通成像系统采用了时间选通CCD成像相机,Time-Gated CCD Imaging,用于荧光探针成像和磷光探针成像.荧光磷光探针时间选通成像系统没有采用门控增强器而是直接把时间选通信号加到CCD相机上,这种技术大大提高时间分辨率,降低成像噪音,提高光谱灵敏度,提供了荧光磷光探针成像效果.荧光磷光探针时间选通成像系统feichang适合荧光探针寿命,荧光基团寿命,fluorophores大于100ns的应用,广泛用于长寿命探针,例如Lanthanide complexes, Oxygen and Temperature sensitive sensors, inorganic phosphors等. 它有效消除短探针寿命背景,提高长寿命荧光探针灵敏度.

这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率*性测量仪器，它采用微处理器电路直接计算出V/I数值，表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。

这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜）在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种*色的测量，我们*意研发了zhuanye的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ，热分解温度thermal degradation temperature (Td) ，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。

这款便携式薄膜测厚仪是quanqiu首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等，这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k，薄膜厚度测量范围为350-1000nm.

这款光学薄膜测厚仪是采用光谱反射计SR技术的反射光谱膜厚仪,测量薄膜反射光谱,测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，feichang适合日常已知膜系膜堆测量。

这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。

这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。