这款宽带光学膜厚仪是一款台式光学薄膜测厚仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光,也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k。测量薄膜厚度范围:2nm -150um,波长范围250-1700nm

这款显微分光光度计MicroSpectrophotomete是多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光。这款显微分光光度计通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。

这款高级自动光谱椭偏仪是自动变角椭偏仪,能够自动改变测角计入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改变步进高达0.01度，光谱范围覆盖250-1700nm, 是宽波段高精度自动椭偏仪。

这款手动低价光谱椭偏仪是高性价比手动椭偏仪,它采用手动改变测角计入射角技术,相比于自动改变入射角的自动光谱椭偏仪价格*低。

光伏光谱椭偏仪是zhuanye为光伏太阳能领域薄膜测量而开的太阳能薄膜椭偏仪,为光伏薄膜厚度测量研究提供便利，具有实时原位测量光伏薄膜厚度和太阳能薄膜厚度绘图的功能,通过配置不同波段,可测量CdTe薄膜厚度和CIGS薄膜厚度。

这款大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台，提供*为安全的样品操作和定位，具有250-850nm的波长范围，是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。

这款手动光谱椭偏仪是一种手动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围，手动改变入射角。手动spectroscopic ellipsometer光谱范围覆盖从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长feichang适合测量超薄薄膜，比如纳米厚度薄膜测量,硅晶圆薄膜厚度测量，典型值在2nm左右。对于测量许多材料的带隙，深紫外光谱椭偏仪也feichang重要。

这款椭圆偏振显微分光光度计MSP集合椭圆偏振光谱仪和显微光度计功能,适合250-1000nm薄膜膜厚测量,可测量极小斑点的薄膜厚度和折射率,feichang适合用于MEMS，半导体晶圆等领域。

这款自动椭圆偏振光谱仪M300是一种自动变角光谱椭偏仪和深紫外光谱椭偏仪,具有250-1100nm的波长范围，并具有自动改变入射角的功能。自动spectroscopic ellipsometer从深紫外到可见光再到近红外.深紫外波长椭偏仪feichang适合测量超薄薄膜厚度，比如纳米薄膜厚度，比如硅晶圆的薄膜厚度，

这款单点开尔文探针系统是quanqiu首款用于室温条件和普通实验室条件下的开尔文扫描探针系统,Kelvin Probe System.它具有极为紧凑结构，可安放到各种环境箱或防尘罩中。

大面积扫描开尔文探针系统能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上，真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移，从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。

高速原子力显微镜是zhuanye为科研单位设计的经济型多功能AFM显微镜,它适合所有应用并给出磁力显微镜模式,电力显微镜模式,纳米光刻模式,弹性力显微镜模式等**功能,在进口原子力显微镜品牌具有***低的原子力显微镜价格，是一款高性价比进口AFM显微镜。

这款紧凑扫描隧道显微镜STM是探索不同材料表面以原子尺度分辨率测试纳米表面形貌和光谱信息的有力STM显微镜工具。扫描隧道显微镜已经成功用于不同样品和材料的探索，从标准的金属材料到半导体材料的研究，甚至到衬底上沉淀的有机分子材质，均可直接可视化测量。

这款多功能扫描探针显微镜是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜和SPM显微镜,具有目前shijie上***为紧凑结构,是进口扫描探针显微镜品牌,SPM显微镜品牌中扫描探针显微镜价格和SPM显微镜价格合理的纳米仪器,这款多功能扫描探针显微镜装配有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品。

这款扫描近场光学显微镜SNOM融合了***新的扫描探针技术和光学显微镜技术，它把微型光学探针feichang接近材料样品表面，实现近场成像，获得光学信息后提供的图像分辨率可达100nm以下,在SNOM显微镜品牌中拥有高性价比SNOM显微镜价格。

这款紧凑手动探针台继承了诸多探针台品牌的*点，以超级紧凑的结构为用户提供操作简单,功能强大较低手动探针台价格解决方案。 紧凑手动探针台feichang适合晶圆研发，失效分析，FR探针，生命科学和医学研究等诸多应用。

纳米压痕仪通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能，并实现静态压痕测量和动态压痕测量以及sclerometry测量，同时具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能。

我们的多功能纳米硬度计通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确测量纳米硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能，并实现静态压痕测量和动态压痕测量以及sclerometry测量，同时具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能。

BSE电镜探测器是为SEM电镜BSE探测设计的背散射电子探测器，为SEM扫描电子显微镜提供高信噪比和超高的分辨率成像。这款扫描电镜探测器适合各种扫描电镜，采用*立设计理念， 具有标准的安装法兰接口，feichang方便用户的安装和使用。

这款电镜荧光屏与电镜光导联合使用用于电镜探测和电镜成像，电镜荧光片采用进口闪烁单晶，具有荧光转换效率高，寿命长的*点，是SEM扫描电镜探测成像和TEM透射电镜探测成像的电镜荧光转换屏。