光学干涉仪
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光学表面测试仪
光学表面测试仪是为光学表面平整度测试设计的平整度测量仪,采用Shack-Hartmann波前传感器技术,激光束从被测光学表面反射后,进入Shack-Hartmann波前传感器进一步分析获得表面光学数据。
编号:
FPACT-HION
价格:
¥0.00
数量:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-2279 9028 您也可
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商品详情
光学表面测试仪
是为光学表面平整度测试设计的
平整度测量仪
,采用
Shack-Hartmann波前传感器技术,
激光束从被测光学表面反射后,进入
Shack-Hartmann
波前传感器进一步分析获得表面光学数据。
光学表面测试仪
规格
•输入孔径:
10
~
50mm
(可选***大
300mm
)
•测量时间:
10ms
•测量精度:
0.032
μ
m
(
P-V
)
•测量像差
P-V值:
高达
5
μ
m
•光源
-
二极管激光器
•激光波长
-0.65
μ
m
•探测器:
CCD/CMOS相
机
光学表面测试仪测量结果如下:
•
P-V
和
RMS
•像差扩展到
Seidel
和
Zernike
多项式(倾斜、散焦、像散等)
•条纹展示,二维和三维波前
标签:
光学表面测试仪
平整度测试
平整度测量仪
Shack-Hartmann
波前传感器
HION
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