这款低温UHV扫描探针显微镜是超高真空室内应用设计的高真空低温SPM扫描探针显微镜。样品预处理和探针清洗可在超高真空室中进行,使超低温STM/AFM能够进行原子或分子水平的分辨率观测。
低温UHV扫描探针显微镜特征
广泛适用于He温度STM/AFM测量
用户友*,低温性能和稳定性*异
光学辐照采用透镜级,适用于各种发光测量
提供两个原位沉积端口,适用于低温沉积/吸附
新型高效低温恒温器
LHe消耗量为0.7升/天
两次LHe充装之间的间隔时间大于12天
充液氮间隔时间>1周
低温UHV扫描探针显微镜应用
超低温STM,非弹性隧穿光谱(IETS)
应用于各种AFM功能(MFM、KFM、SCM等)
光激发STM、AFM测量
隧道电流诱导的超低温高分辨光发射,尖端增强拉曼光谱
原位沉积,原子、分子的吸附
STM Topographic Image of Si (100)
Temperature: 63 K
Field of View: 3 nm × 3 nm
Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.
STM Molecular Structure and Topographic Image of COOH-Porphyrin-Tetramer
Temperature: 63 K
Field of View: 11 nm × 11 nm
Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.
低温UHV扫描探针显微镜规格参数
分辨率: XY<2pm, Z<0.2pm
磁场:无
高真空:<10^-8Pa
超低温:6-10K固定温度
STM: 可选配
其它:可以配备安装透镜,用于连接其它光学仪器
***大扫描范围 (X×Y×Z) | 1.7 × 1.7 × 0.25 µm3 @ 5 K |
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分辨率 | Atomic resolution |
底座基础温度 | 5 K |
底座基础压力 | Obs. Prep. Ch. 3.0×10-8 Pa, LLC 1.3×10-5 Pa |
STM控制器 | Nanonis™ SPM控制系统 |
可选项 | |
AFM功能 | Tuning fork NC-AFM |