光伏光谱椭偏仪

光伏光谱椭偏仪是zhuanye为光伏太阳能领域薄膜测量而开的太阳能薄膜椭偏仪,为光伏薄膜厚度测量研究提供便利，具有实时原位测量光伏薄膜厚度和太阳能薄膜厚度绘图的功能,通过配置不同波段,可测量CdTe薄膜厚度和CIGS薄膜厚度。
光伏光谱椭偏仪典型应用
防反射增透镀膜涂层、SiNx、SiOx测厚
CdTe、CIGS、CdS、Mo薄膜测厚
非晶硅、纳米硅和晶体硅测量
各种TCO薄膜（ITO、FTO、IZO、AZO等）测量

光伏光谱椭偏仪具有250-1100nm的波长范围，覆盖从深紫外到可见光再到近红外的光谱范围.深紫外波长feichang适合测量硅晶圆的薄膜厚度，典型值在2nm左右。
椭圆偏振技术是通过研究光束在样本表面反射后偏振态变化而获得表面薄膜厚度等信息的薄膜测量技术。
与反射计或反射光谱技术不同的是，光谱椭偏仪参数Psi 和Del并非在常见入射角下获得。通过改变入射角大小，可获得许多组数据，这样就feichang有助于*化椭偏仪测量薄膜或样本表面的能力，因此变角椭偏仪功能远远大于固定角椭偏仪。

光伏光谱椭偏仪solar*色
易于安装，拆卸和维护
**的光学设计
自动改变入射角，入射角分辨率高达0.01度
高功率250-1100nm光源适合多种应用
采用阵列探测器确保高速测量
测量薄膜膜堆的薄膜厚度和折射率
可用于实或在线监测薄膜厚度和折射率
具有齐全的光学常数数据库
提供工程师模式，服务模式和用户模式三种使用模式
灵活的工程师模式用于各种安装设置和光学模型测量
一键快速测量
全自动标定和初始化
精密样品准直界面直接样品准直，不需要额外光学
精密高度和倾斜调整
适合不同材料和不同后的样品衬底基片
2D和3D数据显示输出
光伏光谱椭偏仪solar参数
波长范围：250-1100nm 
波长分辨率：1nm
测量点大小：1-5mm可调
入射角：0-90度可调
入射角分辨率：5度
可测样品大小：高达160x160mm
可测样品厚度：高达20mm 
测量薄膜厚度：0nm ---20um
测量时间：~1s/点
精度：~0.25%
重复精度：<1A



光伏光谱椭偏仪solar可选配件
反射或透射光度测量配件
微点测量小面积
X-Y位移台用于厚度绘图
加热台/制冷台用于薄膜动力学研究
垂直样品安装测角计
波长拓宽到IR范围
扫描单色仪配置