X射线吸收精细结构谱仪

X射线吸收精细结构谱仪XAFS是集XAS,XES和XRD测量模式于一体的XAFS谱仪。
X射线吸收精细结构谱仪采用Rowland -Circle光路和大面积弯曲晶体光学设计,不需要同步辐射即可获得精细结构信息。
X射线吸收精细结构谱仪*色
实验室科研配置，不需要同步辐射
多模式XAS, XES, XRD可切换
配备微焦距X射线源
双反馈稳定机制减少手动准直需要
可配备原位X射线吸收精细结构谱仪
X射线吸收精细结构谱仪规格参数
探测器：SDD
Rowland半径：500mm 
测试方法： XAS, XES, XRD可切换
X射线源：金属陶瓷X射线管，可选配Mo, Cu, Ag靶材
能量范围： 3Kev-28keV
能量分辨率：XANES:  0.1-1.5eV@8Kev
                           EXAFS: 1.5-10eV
通量：>5000,000phs/s @7-9keV
数据采集速度：约10分钟
样品环境：可选配惰性气体
工作温度：10-30℃